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SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介:SE-VE是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設計,使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息
SE-i光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介:光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀,針對有機/無機鍍膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測中的定制化開發(fā),快速實現(xiàn)光學薄膜原位表征分析
產(chǎn)品簡介:全自動橢偏檢測機臺作為一種小型橢偏集成機臺,通過整體高度模塊化,電、氣路集成技術,實現(xiàn)不同橢偏測量模塊在線/離線式整體橢偏測量解決方案
產(chǎn)品簡介:SE-PV光伏橢偏儀是一款光伏行業(yè)領域專用型光譜橢偏儀,針對光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽能電池表面減反膜測量定制開發(fā),快速實現(xiàn)薄膜物性表征分析
產(chǎn)品簡介:SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術,配置全自動Mapping測量模塊,通過橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測量,快速實現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學參數(shù)自定義繪制化測量表征分析