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描述:SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介:SE-VE是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設(shè)計(jì),使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息
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2024-03-07訪問量
355SE-VE 光譜橢偏儀
產(chǎn)品簡介: SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設(shè)計(jì),使用簡便,可一鍵快速測量 表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。高性價(jià)比光學(xué)橢偏測量解決方案,緊湊集成化設(shè)計(jì),用 戶操作體驗(yàn),一鍵快速測量分析,人機(jī)交互設(shè)計(jì),使用便捷,豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,保證強(qiáng)大 數(shù)據(jù)分析能力,廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等快速表征分析。
產(chǎn)品型號(hào) | SE-VE 光譜橢偏儀 |
主要特點(diǎn) | 1、采用高性能進(jìn)口復(fù)合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍(400-800nm) 2、高精度旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制、 PCRSA 配置, 實(shí)現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集 |
3、數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料 | |
技術(shù)參數(shù) | 1、自動(dòng)化程度:固定角 2、應(yīng)用定位:經(jīng)濟(jì)型 3、基本功能: Psi/Delta、N/C/S、R 等光譜 |
4、分析光譜: 400-800nm | |
5、單次測量時(shí)間: 0.5-5s | |
6、重復(fù)性測量精度: 0.05nm 7、光斑大?。?/span> 大光斑 1-3mm 8、入射角調(diào)節(jié)方式:固定角 |
9、入射角范圍: 65° | ||
10、找焦方式:手動(dòng)找焦 11、Mapping 行程:不支持 12、支持樣件尺寸: 至 160mm | ||
可選配件 | 1 | 溫控臺(tái) |
2 | 真空泵 | |
3 | 透射吸附組件 |
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